LPSilicon-PYRA04经济型日射强度计

LP Silicon-PYRA 04经济性日射强度计

硅光电二极管(305nm-1100nm)测量太阳总辐射

高性价比

mv输出

快速响应

LP Silicon-PYRA 04日射强度计通过一个硅光电二极管(305nm-1100nm)测量太阳总辐射。特殊的几何构造和散光器根据余弦定律可以测量180度范围内的总辐射场。该日射强度计可以测量自然界的阳光。阴天时,最好使用热电堆日射强度计(LP PYRA 03或LP PYRA 02)测量反射光。 

LP Silicon-PYRA 04日射强度计可以测量可再生能源的太阳辐射,如太阳能光热和太阳能光伏。LP Silicion-PYRA 04日射强度计的光谱响应没有覆盖所有的太阳光谱,也不是恒定的。只有LP Silicion-PYRA 04日射强度计经过光校准,且校准光的光谱和所测光谱是一致的之后,才能精确测量。
在天气晴朗的条件下,该日射强度计测量的辐射值不确定性小于3%。阴天、日出或日落时,太阳光谱和仪器校准的光谱大不一样,因此测量误差会增加。

   技术参数:

典型灵敏性 

60-100μV/(W/m2)

测量范围

0…1400W/m2

光谱范围

350nm…1100nm

响应时间

0.5

非线性

1%

稳定性

<±2%每年

温度漂移

<±0.15%/

校准的不确定性

<3%

根据余弦定律响应

±3%(在0°…75°范围内)

工作温度

-40…+ 65

阻抗输出

25Ω